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產品簡介
半導體冷熱沖擊試驗箱也被稱為冷熱試驗箱或溫度沖擊試驗箱，是一種重要的環境實驗設備，主要用于測試和評估產品在溫度變化環境下的性能和可靠性。
產品分類
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| 品牌 | ASLI/艾思荔 | 價格區間 | 10萬-20萬 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 能源,電子/電池,紡織/印染,航空航天,汽車及零部件 |
| 內部尺寸 | 400-350-350 | 外部尺寸 | 1400-1800-1400 |
| 測試室溫度范圍 | -70~200度 | 高低溫暴露時間 | 30分鐘 |
| 內外部材質 | 304不銹鋼 | 保溫材質 | 耐高溫高密度氯基甲酸泡沫絕緣材料 |
| 機械工作原理 | 微電腦平衡調溫控制系統 |
半導體冷熱沖擊試驗箱制冷壓縮機啟停控制溫度（溫度波動大、嚴重影響壓縮機壽命，已淘汰的技術）制冷壓縮機恒定運行+加熱PID控制（導致制冷量與加熱相抵消實現溫度動態平衡，浪費了大量的電能）新型PWM冷控制技術實現低溫節能運行：低溫工作狀態，加熱器不參與工作，通過ASLI技術控制調節制冷機組制冷劑流量和流向，對制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調節，實現對工作室溫度的自動恒定。此方式在低溫工況下，可實現降低40%的能耗。
半導體冷熱沖擊試驗箱規格/SPEC/要可按客戶要求訂制
| 型 號 | TS-42（A～C） | TS-80（A～C） | TS-150（A～C） | TS-252（A～C） | TS-450（A～C） |
| 內部尺寸W×H×D(cm) | 40×35×30 | 50×40×40 | 60×50×50 | 70×60×60 | 80×75×75 |
| 外部尺寸W×H×D(cm) | 140×180×145 | 148×190×155 | 160×200×175 | 175×210×187 | 190×220×200 |
| 溫度范圍（測試區） | (150℃～A：-45℃；B：-55℃；C：-65℃)；(高溫區：+60℃～+150℃；低溫區-10℃～-65℃) | ||||
| 升溫時間(蓄熱區) | RT～200℃約需35min | ||||
| 降溫時間(蓄冷區) | RT～-70℃約需85min | ||||
| 溫度回復時間／轉換時間 | ≤5min內 / ≤l0秒內 | ||||
| 溫度控制精度／分布精度 | ±0.5℃／±2.0℃ | ||||
| 保溫材質 | 耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料 | ||||
| 系統 | P．I．D + S．S．R + 微電腦平衡調溫控制系統 | ||||
| 冷卻系統 | 半密閉式雙段壓縮機(水冷式)／全密閉式雙段壓縮機(風冷式) | ||||
| 安全保護裝置 | 無熔絲開關、壓縮機高低壓保護開關，冷媒高壓保護開關、故障警告系統，電子警報器 | ||||
| 配 件 | 觀視窗(特殊選購型)、上下可調隔層兩片、通電測試孔、腳輪、水平支架 | ||||
| 電 源 | AC380V 50Hz／60Hz 3 ∮ | ||||
| 重量(大約 | 700Kg | 900Kg | l200Kg | 1400Kg | 1900Kg |
沖擊試驗箱特點:
采用彩色中英文LCD觸控式圖控操作介面，操作簡易.
設備區分為高溫區、低溫區、測試區三部分，各區之箱體釆之斷熱結構。
沖擊方式應用風路切換方式將溫度導入測試區，做冷熱沖擊測試。
高溫沖擊或低溫沖擊時，*大時間可達9999分鐘，*大循環周期可達9999次。
系統可作自動循環沖擊或手動選擇性沖擊并可設定二區或三區沖擊及冷沖熱沖啟始。
冷卻采二元冷凍系統，降溫效果快速，冷卻方式為風冷式或水冷式兩種。
可連接電腦，記錄儀僅為選購件。
彩色LCD液晶觸控式控制器的特點：
控制器的各項操作皆以人機觸控方式進行。
人性化的圖控介面讓使用者更容易使用及了解機械狀態。
提供及時線上說明，免除閱讀說明書的困擾。
超大溫度值顯示,提供*佳的顯示效果.
沖擊試驗箱滿足標準:
1.GB/T2423.1-2008《電工電子產品基本環境試驗》試驗A：低溫試驗方法；
2.GB/T2423.2-2008《電工電子產品基本環境試驗》試驗B：高溫試驗方法；
3.GB/T2423.27-2005《電工電子產品基本環境試驗》試驗Ca：恒定交變濕熱試驗方法。
4.GB2423.2-2006（IEC68-2-2）電工電子產品基本環境試驗規程試驗B：高溫試驗方法
5.GB/T2423.3-2006（IEC68-2-3）電工電子產品基本環境試驗規程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法
6.GB/T2423.4-93（IEC68-2-30）電工電子產品基本環境試驗規程試驗Da:交變濕熱試驗方法
7.GJB150.3（ML-STD-810D）高溫試驗方法
8.GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗方法
9.GJB150.9-1986《設備環境試驗方法：濕熱試驗》
10.GJB4.5-1983《船舶電子設備環境試驗：恒定濕熱試驗》
11.GJB4.6-1983《船舶電子設備環境試驗：交變濕熱試驗》
12.GJB367.2-1987《通信設備通用技術條件環境試驗方法》濕熱試驗
13.GB/T5170.2-96《溫度試驗設備》
14.GB/T5170.5-96《濕度試驗設備》
15.GB/T10592-2008《高低溫試驗箱技術條件》
16.GB/T10586-2006《濕熱試驗箱技術條件》
17.GB/T10589-2008《低溫試驗箱技術條件》
18.GB/T11158-2008《高溫試驗箱技術條件》
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